FT 測試系統(tǒng)的 FT-S 配置(光譜參數(shù)測量)
紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件,其參數(shù)直接決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限,因此FT 測試系統(tǒng)成為研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵設(shè)備 —— 它能幫助專業(yè)人員精確掌握紅外焦平面陣列的參數(shù)特性。
FT 測試系統(tǒng)是一套完備的設(shè)備,通過產(chǎn)生精確控制時空分布的紅外輻射作用于紅外焦平面輸入平面,再對半自動分析被測器件的輸出信號,從而完成對紅外焦平面陣列(或熱像儀核心)的性能表征。該系統(tǒng)可覆蓋熱像儀核心與紅外焦平面陣列的全維度參數(shù)測量(包括噪聲 / 靈敏度、成像質(zhì)量及光譜參數(shù)),適配 LWIR/MWIR 等不同光譜波段,兼容冷卻 / 非冷卻探測器,還能根據(jù)測試需求提供多版本配置,甚至支持完整熱像儀測試的超擴展版本。
作為模塊化系統(tǒng),F(xiàn)T 測量系統(tǒng)可快速拆分為三個半獨立工作站:
FT-N—— 負責噪聲和響應(yīng)參數(shù)測量;
FT-I—— 負責成像質(zhì)量參數(shù)測量;
FT-S—— 即本次介紹的光譜參數(shù)測量配置,是FT 測試系統(tǒng)針對紅外焦平面陣列光譜特性專項優(yōu)化的功能模塊。