FCLIP-A配置：專注于測量無限遠目標情況下兩個成像通道的偏轉角。在實際應用中，通常假設被測成像器的光學物鏡焦距大于2000mm即可視為無限遠測試場景，因此該配置能夠滿足大多數卡扣式成像器的基礎測試需求，具備高性價比與廣泛的適用性；

FCLIP-B配置：在FCLIP-A配置的基礎上進行功能升級，除具備相同的無限遠通道偏轉角測量能力外，新增了兩個成像通道分辨率的測量功能。分辨率作為評價成像質量的核心指標，該功能的加入使得設備能夠更全面地評估被測成像器的成像性能，為成像設備的質量檢測提供更豐富的數據支撐；

FCLIP-C配置：在FCLIP-B配置的測試能力基礎上，進一步新增了圖像旋轉偏差的測量功能。圖像旋轉偏差直接影響成像的穩定性與準確性，尤其在精密光學成像設備的測試中至關重要，該配置能夠精準捕捉這一參數，滿足更高精度的測試需求；

FCLIP-D配置：針對高性能融合成像器的特殊測試需求設計，可實現有限遠目標（距離涵蓋約50m、100m、200m、400m、1000m）及無限遠目標情況下兩個成像通道軸偏差的測量。對于高性能融合成像器而言，有限遠目標下的校軸性能直接決定了設備在實際應用場景中的表現，因此該配置成為高性能設備研發與質量檢測的核心工具。